更新时间：2020-08-18   点击次数：3132次

 　　杂散光是紫外可见分光光度计非常重要的关键技术指标。它是分析误差的主要来源,它直接限制被分析测试样品浓度的上限。

　　当一台紫外可见分光光度计的杂散光一定时,被分析的试样浓度越大,其分析误差就越大。astm认为:“杂散光可能是光谱测量中主要误差的来源。尤其对高浓度的分析测试时,杂散光更加重要”。

　　杂散光对分析测试结果的误差影响是随着吸光度值增大而增大的。因此,吸光度值越大,对误差的影响也越大。

　　产生杂散光的原因很多,其主要的原因大致有以下9个方面:

　　1.灰尘沾污光学元件(如光栅、棱镜、透镜、反射镜、滤光片等)。

　　2.单色器内壁黑化处理不当。

　　3.准直系统内部或有关隔板边缘的反射。

　　4.狭缝的缺陷。

　　5.热辐射或荧光引起的二次电子发射。

　　6.光学系统屏蔽不好。

　　7.光束孔径不匹配。

　　8.光学系统的像差。

　　9.光学元件被损伤,或光学元件产生的其他缺陷(如光栅、透镜、反射镜、棱镜材料中的气泡等)。

　　以上9个方面中,光栅是杂散光的主要来源。它产生的杂散光占总杂散光的80%以上。

　　杂散光的测试方法

　　目前,测试杂散光常用的方法是所谓“截止滤光法”(thecutofffiltermethod)或称作“滤光片法”(thefiltermethod)。主要是采用滤光片或滤光液来测试紫外可见分光光度计的杂散光。有时也采用he-ne激光器的632.8nm来测试杂散光。具体做法是在离632.8nm±5nm处进行测试,测出的数值与632.8nm相比就是杂散光。

　　“截止滤光法”的具体测试方法:仪器冷态开机,预热0.5h,如用“滤光片法”测试,则参比为空气;如用滤光液来测试,则参比为溶剂(若用nai、nano2水溶液,则参比为蒸馏水)。设置仪器的纵坐标为%t,横坐标为波长nm),用滤光液时,试样比色皿中装滤光液,参比比色皿中装溶解液,将波长调到相应的波长上(nai为220nm、nano2为340nm)进行测试。